4H-N/6H-N SiC Wafer Reasearch tootmine näiv klass Dia150mm ränikarbiidist substraat

4H-N/6H-N SiC Wafer Reasearch tootmine näiv klass Dia150mm ränikarbiidsubstraat Esiletõstetud pilt

Lühike kirjeldus:

Pakume kõrge temperatuuriga ülijuhtivat õhukese kile substraati, magnetilisi õhukesi kilesid ja ferroelektrilisi õhukese kile substraati, pooljuhtkristalli, optilist kristalli, laserkristalli materjale ning samal ajal pakkuda orientatsiooni, kristallide lõikamist, lihvimist, poleerimist ja muid töötlemisteenuseid.Meie SiC substraadid pärinevad Hiinast Tankeblue tehasest.

Saatke meile e-kiri

Toote üksikasjad

Tootesildid

6-tollise läbimõõduga ränikarbiidi (SiC) substraadi spetsifikatsioon

Hinne	Null MPD	Tootmine	Uurimisaste	Näiv hinne
Läbimõõt	150,0 mm±0,25 mm
Paksus	4H-N	350um±25um
	4H-SI	500um±25um
Vahvlite orientatsioon	Teljel: <0001>±0,5° 4H-SI jaoks Teljest väljas: 4,0° suunas <1120>±0,5° 4H-N jaoks
Esmane korter	{10-10}±5,0°
Esmane tasapinnaline pikkus	47,5 mm±2,5 mm
Serva välistamine	3 mm
TTV/vibu/lõime	≤15um/≤40um/≤60um
Mikrotoru tihedus	≤1cm-2	≤5cm-2	≤15cm-2	≤50cm-2
Eritakistus 4H-N 4H-SI	0,015~0,028Ω!cm
	≥1E5Ω!cm
Karedus	Poola Ra ≤1nm CMP Ra≤0,5nm
#Mõrad suure intensiivsusega valguse tõttu	Mitte ühtegi		1 lubatud ,≤2mm	Kumulatiivne pikkus ≤10mm, üksik pikkus ≤2mm
*Hex plaadid kõrge intensiivsusega valgusega	Kumulatiivne pindala ≤1%		Kumulatiivne pindala ≤ 2%	Kumulatiivne pindala ≤ 5%
*Polütüüpi alad kõrge intensiivsusega valgusega	Mitte ühtegi		Kumulatiivne pindala ≤ 2%	Kumulatiivne pindala ≤ 5%
*&Kõrge intensiivsusega valguse kriimustused	3 kriimustust kuni 1 x vahvli läbimõõdu kumulatiivse pikkuseni		5 kriimu kuni 1 x vahvli läbimõõdu kumulatiivne pikkus	5 kriimustust kuni 1 x vahvli läbimõõdu kumulatiivse pikkuseni
Serva kiip	Mitte ühtegi		Lubatud 3, igaüks ≤0,5 mm	Lubatud 5, igaüks ≤1 mm
Saastumine suure intensiivsusega valgusega	Mitte ühtegi

Müük ja klienditeenindus

Materjalide ostmine

Materjalide ostmise osakond vastutab kogu teie toote tootmiseks vajaliku tooraine kogumise eest.Kõikide toodete ja materjalide, sealhulgas keemilise ja füüsikalise analüüsi täielik jälgitavus on alati saadaval.

Kvaliteet

Teie toodete valmistamise või töötlemise ajal ja pärast seda tagab kvaliteedikontrolli osakond, et kõik materjalid ja tolerantsid vastavad teie spetsifikatsioonile või ületavad seda.

Teenindus

Oleme uhked, et meil on müügiinsenerid, kellel on pooljuhtide valdkonnas üle 5-aastane kogemus.Nad on koolitatud vastama tehnilistele küsimustele ja esitama õigeaegseid hinnapakkumisi teie vajaduste jaoks.

oleme teie kõrval igal ajal, kui teil on probleem, ja lahendame selle 10 tunni jooksul.